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顯微顆粒圖像分析儀測(cè)試原理:通過對(duì)顆粒數(shù)量和每個(gè)顆粒所包含的像素?cái)?shù)量的統(tǒng)計(jì)，計(jì)算出每個(gè)顆粒的等圓面積和等球體積，從而得到顆粒的等圓面積直徑、等球體積直徑以及長(zhǎng)徑比等，再對(duì)所有的顆粒進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，從而得到粒度分布等信息。顯微顆粒圖像分析儀適用領(lǐng)域:1、研磨材料：金剛石、碳化硅、碳化硼、白剛玉、氧化鈰等。2、電池材料：球形石墨、鈷酸鋰等。3、用于驗(yàn)證其他粒度測(cè)試的手段和方法。使用顆粒圖像分析時(shí)應(yīng)注意的事項(xiàng):⒈取放顆粒圖像分析時(shí)動(dòng)作一定要輕，切忌震動(dòng)和暴力，否則會(huì)造成光軸偏斜而影響觀察...

激光粒度分析儀采用空氣作分散介質(zhì)，適用于任何干粉物料，特別是和水發(fā)生化學(xué)反應(yīng)以及在液體中發(fā)生形態(tài)變化的顆粒，具有*地準(zhǔn)確度和重復(fù)性，可用于研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)的科學(xué)研究、新品開發(fā)、產(chǎn)品檢測(cè)和質(zhì)量控制。激光粒度分析儀是一種常用的粒度儀產(chǎn)品，具有測(cè)試范圍寬、測(cè)試速度快、結(jié)果準(zhǔn)確可靠、重復(fù)性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。在我們使用激光粒度分析儀產(chǎn)品時(shí)需要注意哪些問題呢?下面我們就來具體看一下激光粒度分析儀幾大使用注意事項(xiàng)，希望可以幫助到大家。激光粒度分析儀使用注意事項(xiàng)：1、要關(guān)注粒度測(cè)量范圍，尤其...

振實(shí)密度測(cè)定儀是指一定量的粉體裝填在特定容器后，以一定的頻率和幅度進(jìn)行振動(dòng)，當(dāng)粉末的體積不再減少時(shí)讀出粉體的體積，然后用粉末的重量除以該體積就得到振實(shí)密度。該儀器符合中國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T21354－2008,和標(biāo)準(zhǔn)ISO3953:1993，并符合美國藥典關(guān)于藥品振實(shí)密度的規(guī)定，是一種通用的振實(shí)密度儀器。此外，BT-300系列采用的百特發(fā)明的水平旋轉(zhuǎn)技術(shù)，就是在上下震動(dòng)的同時(shí)進(jìn)行水平旋轉(zhuǎn)，以保持量筒中粉體表面平整狀態(tài)，有效地提高了測(cè)量精度。為提率，百特設(shè)計(jì)了同時(shí)測(cè)試2個(gè)樣品的B...

粉末流動(dòng)性測(cè)試儀用于測(cè)量粉末的流動(dòng)性質(zhì)，剪切性質(zhì)和包含壓縮性、透氣性和密度在內(nèi)的粉末整體特性。FreemanTechnology特別意識(shí)到粉末在不同加工處理過程和實(shí)際應(yīng)用中所處的不同環(huán)境，所以，在儀器設(shè)計(jì)方面，F(xiàn)T4能夠?qū)崿F(xiàn)在實(shí)際測(cè)量粉末時(shí)模擬這些不同的環(huán)境，并表征粉末針對(duì)不同特定環(huán)境的反應(yīng)。粉末流動(dòng)性測(cè)試儀的性能與什么因素有關(guān)：粉末流動(dòng)性測(cè)定儀指標(biāo)對(duì)于對(duì)生產(chǎn)流程的設(shè)計(jì)十分重要，自動(dòng)壓力機(jī)壓制復(fù)雜零件時(shí)，如果粉末流動(dòng)性差，則不能保證自動(dòng)壓制的裝粉速率，或容易產(chǎn)生搭橋現(xiàn)象，而使...

粉體物理特性測(cè)定項(xiàng)目的定義：1、振實(shí)密度：振實(shí)密度是指粉體裝填在特定容器后，在一定條件下對(duì)容器進(jìn)行振動(dòng)，從而破壞粉體中的空隙，使粉體處于緊密填充狀態(tài)后的密度，一般情況下粉體的振實(shí)密度小于粉體中單顆顆粒的真密度。MKY-108215型多功能粉體物理特性測(cè)試儀提供了美國ASTMD6393-99標(biāo)準(zhǔn)（卡爾指數(shù)）中規(guī)定的振實(shí)密度測(cè)定方法和國家標(biāo)準(zhǔn)（金屬粉末振實(shí)密度的測(cè)定）GB/T5162-2006/ISO3953:1993中規(guī)定的振實(shí)密度測(cè)定方法。2、松裝密度：松裝密度是指粉體在規(guī)定...

納米粒度分析儀在日常存放和使用時(shí)需要注意的事項(xiàng)如下納米粒度分析儀測(cè)量單元連續(xù)開機(jī)時(shí)間不宜超過5小時(shí)當(dāng)測(cè)完一種樣品，必須取下進(jìn)樣料斗，讓儀器自動(dòng)執(zhí)行清洗料倉程序，確保下一種樣品的測(cè)量的可靠性。并且用毛刷清除進(jìn)樣料斗上的殘余樣品；納米粒度分析儀的全套設(shè)備不論是否處于工作狀態(tài)，都應(yīng)放置在清潔干燥的環(huán)境中計(jì)算機(jī)關(guān)機(jī)必須按規(guī)定的步驟進(jìn)行，切不可貿(mào)然關(guān)斷電源，否則可能造成難以彌補(bǔ)的損失系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置；在主菜單下，用鼠標(biāo)左鍵單擊“文件”，屏幕上彈出“文件”子菜單。再用鼠標(biāo)左鍵單擊“重新開始”...

（1）篩分法。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低，常用于大于40um的樣品。缺點(diǎn)：結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。（2）顯微鏡（圖像）法。優(yōu)點(diǎn)：簡(jiǎn)單、直觀，可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（zui大和zui小粒徑的比值小于10：1）的樣品。缺點(diǎn)：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1um的樣品。（3）沉降法（包括重力沉降和李新沉降）。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較廣。缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)，操作比較繁瑣。（4）電阻法。優(yōu)點(diǎn)：操作漸變...